高低温热流仪是一种精密环境模拟测试设备,专为电子元器件、半导体芯片、光通讯模块 等产品提供快速温度冲击测试和高低温循环可靠性验证。与传统冷热冲击箱相比,其通过 高速气流温度切换技术,可在数秒内实现极端温度变化(如-80℃至+250℃),且能针对 单个元器件进行局部精准温控,避免对周边组件造成干扰,显著提升测试效率与精度。
一、产品概述
高低温热流仪是一种精密环境模拟测试设备,专为电子元器件、半导体芯片、光通讯模块等产品提供快速温度冲击测试和高低温循环可靠性验证。
与传统冷热冲击箱相比,其通过高速气流温度切换技术,可在数秒内实现极端温度变化(如-80℃至+250℃),且能针对单个元器件进行局部精准温控,避免对周边组件造成干扰,显著提升测试效率与精度。
二、核心优势
1.超快速温变性能
温度转换速度可达10秒内完成-55℃至+125℃冲击,满足军工、半导体等行业对严苛温变速率的需求。
采用自复叠制冷技术或机械制冷系统,无需液氮等消耗性冷媒,环保且运行成本低。
2.精准控温与稳定性
PID智能算法结合高精度传感器(T型/K型热电偶),控温精度达±0.3℃,温度分辨率0.01℃,确保测试数据可靠性。
支持Air Mode(气流温度控制)和DUT Mode(样品表面温度控制)双模式,适配不同测试场景。
3.高可靠性设计
压缩机采用弹簧减震+特种橡胶二次减震,管道增设U型弯头,有效降低振动导致的系统泄漏风险,延长设备寿命。
多重保护机制:压缩机压力保护、过热保护、故障自诊断,保障连续运行稳定性。
4.智能化与兼容性
配备7-15寸彩色触摸屏,支持远程监控(LAN/USB/RS232接口),兼容LabView驱动及BMS系统集成。
5.可编程运行模式(手动循环、自动程序、自定义温变曲线),满足复杂测试需求。
三、应用场景
行业应用
半导体制造 芯片特性分析、封装可靠性测试 避免温度波动导致IC性能偏差,提升良率5%+
光通讯 SFP模块、光纤收发器高低温冲击测试 10秒温变速率缩短50%测试周期
新能源电池 电解液低温存储、电池管理系统(BMS)验证 -80℃深冷环境模拟,防止材料失效
航空航天 卫星组件、导航芯片极端环境适应性测试
四、技术参数
温度范围:-80℃ ~ +250℃(可定制至-100℃或更高)
温变速率:-55℃↔+125℃ ≤10秒(空载)
控温精度:±0.3℃(DUT模式±0.5℃)
气流输出:1.9~8.5 L/s(8路独立调节)
制冷方式:风冷自复叠系统(环保冷媒R404A/R507)
噪音控制:≤65 dB(A声级),适合实验室环境